Какие приборы получит ФИЦ ИПФ РАН в 2022 году
Ранее мы сообщали, что ФИЦ ИПФ РАН выиграл грант на обновление приборной базы в 2022 году. Учёные Института прикладной физики и Института физики микроструктур рассказали, какие приборы они планируют приобрести для своих исследований на эти средства.
Интерферометрическая система Zygo NewView 9000
Владимир Полковников, ведущий научный сотрудник отдела многослойной рентгеновской оптики ИФМ РАН
«Мы планируем приобрести интерферометрическую систему Zygo NewView 9000, предназначенную для высокоточных (до субнанометров) измерений широкого спектра типов
поверхностей, включая гладкие, шероховатые, плоские, наклонные и ступенчатые. Все измерения являются неразрушающими, быстрыми и не требуют специализированной подготовки образцов. Важным приложением прибора видится использование его для измерений профилей поверхности протяженных (до 300 мм) подложек сферической и асферической форм. Эти подложки предназначены для осаждения на них многослойных зеркал жесткого рентгеновского диапазона. Такие оптические элементы востребованы, например, в строящихся в России синхротронах 4-го поколения».
Высоковакуумная установка осаждения тонких плёнок методом электронно-лучевого испарения
Алексей Аладышкин, доктор физико-математических наук, ведущий научный сотрудник отдела физики сверхпроводников ИФМ РАН
«В 2022 году ФИЦ «Институт прикладной физики» запланировал приобрести высоковакуумную установку осаждения тонких плёнок методом электронно-лучевого испарения для отдела физики сверхпроводников Института физики микроструктур РАН.
Основное предназначение этой технологической установки: отработка методов создания гибридных структур сверхпроводник – нормальный металл и сверхпроводник – ферромагнетик с туннельно-прозрачными границами раздела. Такие системы необходимы для экспериментального изучения эффектов близости на интерфейсе сверхпроводник – нормальный металл или сверхпроводник - ферромагнетик и исследования взаимодействия сверхпроводящего и ферромагнитного параметров порядка. Необходимыми условиями для изготовления гибридных систем такого рода, обладающих высоким структурным качеством, являются (а) достаточно высокий уровень вакуума (не хуже 10^(-8) - 10^(-9) мбар), (б) совместимые с высоковакуумным оборудованием источники материалов, такие как электронно-лучевые испарители, (в) возможность очистки подложек ускоренным потоком ионов внутри установки и (г) возможность осаждения тонких пленок при высокой температуре (до 900°С). Приобретаемая установка удовлетворяет всем перечисленным условиям».
Сканирующий электронный микроскоп
Андрей Сорокин, научный сотрудник лаборатории микроволновой обработки материалов отдела электронных приборов ИПФ РАН
«Сканирующий электронный микроскоп является прибором с достаточно широким спектром возможных вариантов применения. Основными общими задачами, которые он позволяет решать, являются получение высококачественных изображений микроструктуры различных объектов и определение их элементного состава.
В рамках тематики работ, проводящихся в институте, это позволяет, например, получать информацию о структуре и составе материалов, либо подвергающихся, либо получаемых в результате воздействия различных исследуемых процессов (например, микроволнового или лазерного излучения, газового разряда и т.д.). Это, в свою очередь, позволяет определять наиболее интересные и перспективные режимы и направления работы. Кроме того, возможность контроля микроструктуры и состава материала оказывается очень полезной при создании и обслуживании различных приборов и установок, например, генераторов мощного СВЧ-излучения. Практика показывает, что наличие в приборной базе подобного устройства нередко оказывается востребованным в самых разных, порой заранее трудно прогнозируемых, областях».
Светлана Буланова, младший научный сотрудник, лаборатория источников и приложений мощного терагерцевого излучения отдела электронных приборов ИПФ РАН
«Электронный микроскоп позволит осуществить проверку качества покрытия материалов для устройств (равномерность, гладкость), исследовать распределения элементов по поверхности материалов (каустобиолиты, наноматериалы). Также в рамках исследований пиролиза органических материалов возможно изучение микроструктур диэлектриков (размеры пор, размер и состав наноструктур), элементного состава и их сорбирующих свойств».